Microscope électronique à balayage FlexSEM II

multiusagepour analysepour l'inspection des inclusions non métalliques

FlexSEM II est un MEB de table / compact pour les tâches d'imagerie qui dépassent les performances des MEB de table conventionnels. C'est le système idéal pour tous ceux qui ne veulent pas investir dans un MEB classique, mais qui ne veulent pas non plus faire de compromis sur les performances d'imagerie et la variabilité des détecteurs. Caractéristiques du produit : - 4nm @ 20kV Optique électronique à haute résolution avec des énergies de faisceau entre 300eV et 20keV - Vide poussé et vide bas réglable jusqu'à 100Pa - Détecteur de rétrodiffusion SE et 4+1 segments standard, SE sous vide faible en option (UVD) ; peut également être utilisé pour la cathodoluminescence et l'imagerie STEM, la caméra de navigation optique couleur et le chamberscope - platine d'échantillonnage à 5 axes pour des échantillons d'un diamètre maximal de 153 mm et d'une hauteur maximale de 40 mm. 153 mm de diamètre et 40 mm de hauteur