Microscope électronique à balayage à émission de champ SU5000

pour analyse3Din-situ

Le FE-SEM analytique innovant permet une transition simple entre le mode vide poussé et le mode pression variable. EM Wizard est un système basé sur la connaissance pour l'imagerie MEB qui va au-delà des conditions et recettes de base prédéfinies. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle porte pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines dépassant notre imagination. Le SU5000 FE-SEM a changé à jamais les opérations de MEB. La technologie révolutionnaire assistée par ordinateur d'Hitachi, appelée EM Wizard, offre un nouveau niveau de fonctionnement et de contrôle du MEB. Expert ou novice, le résultat est désormais le même : des images à l'échelle nanométrique de la plus haute qualité au bout des doigts de chacun ! - Une nouvelle interface utilisateur révolutionnaire, EM Wizard, offre à tous les utilisateurs des niveaux optimaux de résolution, de répétabilité et de débit. Avec EM Wizard, les débutants deviennent des experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" permet d'accueillir de grands échantillons (-200 mmφ, -80 mmH). - Échange rapide des échantillons avec évacuation jusqu'à l'observation en 3 minutes ou moins. - Optimisation de l'image à la demande, automatisée et intuitive, à la volée. - Un guide visuel et interactif permet de choisir les modes de SEM afin de garantir les meilleures conditions de fonctionnement. - Avec l'outil 3D MultiFinder, les échantillons sont facilement inclinés et tournés, l'image restant centrée et nette. Les informations à angles multiples fournies par un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSD) annulaire nouvellement développé permettent d'acquérir simultanément des informations topographiques et compositionnelles.