Analyseur de métal X-Strata920

pour le contrôle qualitépour l'électroniqued'épaisseur de revêtement

Analyseurs XRF microspot d'épaisseur de revêtements et de matériaux pour un contrôle qualité et des tests de validation rapides permettant d’obtenir facilement les bons résultats en quelques secondes. L’analyse de l’épaisseur des revêtements et des matériaux basée sur la fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse largement utilisée et ayant fait ses preuves dans l’industrie. Elle permet des analyses faciles, rapides et non-destructives ne nécessitant que très peu, voire aucune préparation d'échantillon et elle est capable d'analyser des solides ou des liquides dans une large gamme d’éléments allant du 13Al à 92U sur le tableau périodique. Système compteur proportionnel Gamme d'éléments : Ti - U Forme de la chambre : Avec ouvertures latérales Options de table XY : Fixe, Mini-well, motorisée Taille d'échantillon max. : 270 x 500 x 150 mm Nombre maximum de collimateurs : 6 Filtres : 3 Plus petit collimateur : 0.01 x 0.25 mm (0.5 x10 mil) Logiciel SmartLink