Système de mesure de facteur d'anisotropie 2-MGEM

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Développé en coopération avec le Oak Ridge National Laboratory, un nouvel instrument permet de mieux comprendre les combustibles nucléaires de 4ème génération et leurs caractéristiques de polarisation réfléchie. Le système de mesure du facteur d'anisotropie optique 2-MGEM est un microscope à réflexion à polarisation à incidence normale conçu pour mesurer la matrice Mueller de l'échantillon. Il est lauréat du prix R&D 100 2008. Ce système est conçu spécifiquement pour évaluer le facteur d'anisotropie optique (OPTAF) des sections transversales des couches de pyrocarbone du combustible nucléaire TRISO. D'autres caractérisations possibles de matériaux incluent la mesure des éléments de la matrice de Mueller d'autres cristaux, de composés de carbone et de revêtements en couches minces (par exemple, des films de dépôt de surface) à incidence normale. Le 2-MGEM peut également mesurer le retard (d), la diatténuation circulaire (CD) et le facteur de polarisation (ß). Ces paramètres ne sont pas mesurables à l'aide de techniques plus anciennes, car ces techniques ne comportent pas d'élément optique compensateur. Contactez-nous pour plus d'informations sur le système 2-MGEM et pour voir comment Hinds Instruments travaille avec ses clients pour résoudre des problèmes de métrologie complexes. Mesurer TRISO : Comprendre l'orientation préférentielle du graphite dans les couches de revêtement en pyrocarbone interne (IPyC) et externe (OPyC) de TRISO permet d'identifier les problèmes d'orientation de la formation qui conduiront à une défaillance prématurée du confinement.