Spectromètre de photoélectrons rayons X XPS

pour l'analyse

Un système UHV multitechnique pour la science des surfaces, permettant l'utilisation de XPS, UPS, AES, SAM, ISS et LEIS, installé sur la station de travail SIMS de Hiden La spectroscopie de photoélectrons X est une technique très complémentaire qui fournit des informations sur la composition atomique et l'état chimique des liaisons. La XPS peut être utilisée pour quantifier des concentrations élevées et est donc idéale pour fournir des points d'étalonnage pour la technique SIMS, beaucoup plus sensible. Science des surfaces UHV La chambre en deux parties de la station de travail SIMS de Hiden est conçue spécifiquement pour monter l'amélioration XPS en utilisant des composants de pointe de SPECS® et, avec des porte-échantillons inclinables, pour permettre les techniques XPS et SIMS sur la même plate-forme UHV sans compromis. La série d'analyseurs PHOIBOS 150 HV est l'instrument de choix pour l'analyse XPS à haute énergie (HAXPES). Les alimentations à haute tension et la conception très stable de l'analyseur permettent une photoémission jusqu'à une énergie cinétique de 7 keV, ce qui couvre la plupart des sources de lumière à rayons X et des installations synchrotron existantes. Cet analyseur peut être utilisé en mode haute tension et en plus dans tous les modes d'analyse pertinents, tels que (M)XPS, UPS, ainsi que AES, ISS et LEISS. Sa conception et le matériel supplémentaire modulaire font de cet analyseur l'analyseur PES le plus polyvalent du marché. Il peut être facilement mis à niveau avec tous les systèmes de détection SPECS disponibles. Le détecteur 1D-DLD intégré est le système de détection le plus performant du marché. La détection directe des signaux électroniques permet d'obtenir des comptages quantitatifs par seconde (cps). L'électronique puissante permet d'obtenir des mesures instantanées ultrarapides du spectre énergétique