Spectromètre de masse à ionisation secondaire FIB-SIMS

pour l'analysede grande sensibilité

Ajoutez une capacité SIMS haute performance à votre système FIB existant Hiden Analytical propose une spectrométrie de masse à ions secondaires (SIMS) haute performance pour les systèmes à faisceau d'ions focalisé (FIB) existants, offrant une spécificité de surface exceptionnelle et une gamme dynamique naturellement élevée pour l'analyse avancée des matériaux à l'échelle nanométrique. Nos systèmes FIB-SIMS sont prêts à améliorer vos opérations, des tâches de détection de routine à la préparation d'échantillons complexes. L'analyse des matériaux à l'échelle nanométrique fait référence à un domaine croissant d'instruments axés sur la détection d'éléments à l'état de traces et d'ultra-traces jusqu'à la gamme des parties par million (ppm). Ceci est essentiel pour la cartographie élémentaire tridimensionnelle (3D) à haute sensibilité et le profilage en profondeur, deux méthodes clés d'analyse des matériaux pour les applications d'identification des matériaux analytiques et préparatoires. La spectrométrie de masse des ions secondaires par faisceau d'ions focalisé (FIB-SIMS) est l'une des techniques d'identification des matériaux les plus puissantes dans l'analyse des matériaux à l'échelle nanométrique à haute sensibilité. Elle associe l'exceptionnelle sensibilité de surface de la SIMS à un faisceau d'ions primaires focalisé, ce qui jette les bases d'une analyse qualitative de la composition des nanocouches supérieures des matériaux d'intérêt. La FIB-SIMS peut fournir des données élémentaires critiques basées sur la détection des isotopes et des ions (atomiques et moléculaires), avec un large éventail de domaines d'application appropriés. Cartographie élémentaire de surface à l'échelle nanométrique Profilage 3D en profondeur Analyse des matériaux Excellente sensibilité et gamme dynamique Interface logicielle personnalisée Le mode "Feature MS" permet d'obtenir des données spectrales de masse à partir d'une zone d'intérêt spécifique, telle qu'un contaminant, une limite de grain, etc Solutions de montage personnalisées disponibles pour tout système FIB