Spectromètre de masse à ionisation secondaire AutoSIMS

pour l'analyseautomatiquecompact

Système automatique d'analyse de surface Hiden Analytical a mis au point un système automatique d'analyse de surface entièrement autonome, l'AutoSIMS, un spectromètre de masse à ions secondaires (SIMS) innovant qui peut effectuer des analyses de routine et répétitives sans surveillance. Doté d'une platine X-Y et d'un support élargi entièrement automatisés, l'AutoSIMS de Hiden peut exécuter des centaines de processus par jour pendant un fonctionnement ininterrompu 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7. Contamination par le silicone Cellule solaire flexible Stent chirurgical Matériaux électroniques Hiden Analytical est spécialisé dans les instruments SIMS pour le profilage en profondeur à l'échelle nanométrique et l'analyse quantitative de surface d'une myriade de types d'échantillons différents, depuis les stations de travail complètes jusqu'aux solutions SIMS compactes. L'AutoSIMS comprend le même canon à ions primaires à source d'oxygène à longue durée de vie et l'analyseur MAXIM que l'on retrouve dans toute la gamme de produits SIMS de Hiden, avec l'ajout d'un porte-échantillon à cassette modulaire et d'une platine d'échantillonnage X-Y pilotée par logiciel. Ces éléments constituent la base d'une détection très fiable des spectres de surface et des profils de profondeur tridimensionnels (3D) sans intervention humaine. La longue durée de vie du canon à ions garantit la production d'un faisceau constant et très stable pendant de longues périodes de fonctionnement, ce qui permet au porte-cassette et à la platine d'échantillonnage de délivrer des doses d'échantillon continues pour une analyse par lots à haut débit. Même les opérateurs novices peuvent programmer le système d'analyse de surface automatique en ajustant la matrice des paramètres expérimentaux à l'aide d'une simple feuille de calcul.