Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDAL®-PCB

de mesurede circuit impriméhaut de gamme

Contrairement au XULM-PCB et au XDLM-PCB, le FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB est équipé d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) très sensible, de différentes ouvertures et de filtres. Cela crée des conditions de mesure optimales également pour les tests sur les couches ENIG et ENEPIG. Dans sa configuration de base, l'instrument dispose d'une table d'échantillonnage extractible qui simplifie le positionnement des PCB. Sur demande, celui-ci peut être équipé d'une extension de table d'échantillons pour les PCB de grande taille. • Tube microfocus en tungstène ou en chrome • Ouverture modifiable 4x pour des conditions de mesure optimisées • Filtre modifiable 3x pour des conditions d'excitation optimales pour des tâches plus complexes • Plus petit spot de mesure Ø environ 0. 15 mm • Détecteur de dérive en silicium (SDD) pour l'analyse d'éléments allant de l'aluminium (13) à l'uranium (92) • Patenté par Fischer : la méthode DCM pour un réglage simple et rapide de la distance de mesure • Plate-forme extractible manuellement pour les circuits imprimés jusqu'à 610 x 610 mm (24" x 24") • Hauteur maximale de l'échantillon 10 mm • Contrôle de réception individuel en tant qu'instrument entièrement protégé selon la loi allemande sur la radioprotection