Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDV®-µ

automatiquede mesurehaute précision

• Modèle premium puissant pour la mesure précise de l'épaisseur des revêtements et l'analyse des matériaux sur les plus petites structures et les revêtements les plus fins < 0,1 µm • Tubo microfocus Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sugli spot più piccoli con µ-XRF; anode en molybdène en option • 4 x filtre interchangeable • Détecteur de dérive au silicium extrêmement puissant avec une surface de 20 mm² ou 50 mm² pour la plus grande précision sur les films minces • Optique polycapillaire fabriquée en interne pour les plus petits points de mesure jusqu'à 10 μm FWHM, avec des temps de mesure courts et une intensité élevée. • Processeur d'impulsions numérique DPP+ pour des taux de comptage plus élevés, des temps de mesure réduits ou une meilleure répétabilité de vos résultats de mesure. • Analyse des éléments de Al(13) à U(92), purge à l'hélium disponible, mesure simultanée jusqu'à 24 éléments • Platine XY programmable de haute précision avec une précision de positionnement de < 5 µm pour le positionnement le plus précis de l'échantillon et une reconnaissance automatique du modèle, pour une meilleure précision de répétabilité Domaines d'application typiques • Mesures sur de très petits composants et structures plats tels que des circuits imprimés, des contacts ou des cadres de plomb. • Mesure des revêtements fonctionnels dans l'industrie de l'électronique et des semi-conducteurs • Analyse de revêtements très fins, par exemple, des revêtements d'or/palladium de ≤ 0,1 µm. • Détermination de systèmes complexes à revêtements multiples • Mesures automatisées, par exemple pour le contrôle de la qualité