Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

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Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des appareils à fluorescence X les plus performants du catalogue Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) haute résolution et haute performance avec une surface efficace de 50 mm². Il permet de mesurer avec précision et de manière non destructive les couches les plus fines - par exemple des revêtements d'or d'environ 2 nm d'épaisseur sur des lead frames. En combinaison avec le nouveau processeur d'impulsions numérique DPP+ développé en interne, vous portez vos performances de mesure à un niveau supérieur. Il est désormais possible de traiter des taux de comptage encore plus élevés, ce qui permet de réduire les temps de mesure ou d'améliorer la répétabilité de vos résultats de mesure. Parallèlement, le XDV-SDD est parfaitement adapté à l'analyse non destructive des matériaux par XRF. Ainsi, la sensibilité de détection de traces de plomb dans le plastique est d'environ 2 ppm - plusieurs ordres de grandeur en dessous des valeurs RoHS ou CPSIA exigées. Afin de créer des conditions idéales pour chaque mesure, le XDV-SDD dispose de collimateurs et de filtres primaires interchangeables. Cela permet de travailler à un niveau scientifique. Malgré cela, l'appareil extrêmement robuste, avec son panneau de commande intuitif, est facile à utiliser via un joystick et des touches et est conçu en particulier pour les tests en série dans le cadre d'une utilisation industrielle.