Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDL®

de mesurepour le contrôle qualitéd'inspection

• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM : env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure XDL : env. 0,2 mm • Tube à rayons X en tungstène ou tube à microfocus en tungstène (XDLM) comme source de rayons X • Détecteurs à tube compteur proportionnel éprouvés pour une mesure rapide • Collimateur fixe ou interchangeables • Filtres primaires fixes ou automatiquement interchangeables • Disponibles avec une platine XY manuelle ou programmable • Appareil présentant une fente pour mesurer sur de grandes cartes de circuits imprimés • Caméra vidéo pour un positionnement facile du point de mesure • Dispositifs de protection complète certifiés Applications • Revêtements électrolytiques et galvanisés tels que le zinc sur fer comme protection contre la corrosion • Essai en série, de pièces produites en série • Analyse de la composition d'aciers spéciaux, par ex. détection de molybdène dans A4 • Revêtements décoratifs en chrome, par ex. Cr/Ni/Cu/ABS • Mesure de revêtements en or fonctionnels sur des cartes de circuits imprimés telles que Au/Ni/Cu/PCB ou Sn/Cu/PCB • Revêtements sur connecteurs et contacts dans l'industrie électronique comme Au/Ni/Cu et Sn/Ni/Cu