Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDAL® 600
pour l'électroniquede mesure

Spectromètre à fluorescence X - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - pour l'électronique / de mesure
Spectromètre à fluorescence X - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - pour l'électronique / de mesure
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Caractéristiques

Type
à fluorescence X
Domaine
de mesure, pour l'électronique

Description

Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 est conçu comme un instrument XRF de paillasse convivial pour les mesures non destructives de l'épaisseur des revêtements et l'analyse des matériaux. Il se caractérise par un design compact et pratique qui permet une manipulation et un fonctionnement simples. Pour un positionnement rapide et facile des échantillons, le XDAL 600 est équipé d'une table d'échantillons réglable manuellement (table en ciseaux). De plus, l'analyse XRF de couches de compositions complexes ou de faibles concentrations est facilement réalisable. Même la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse XRF des matériaux sur des échantillons aux géométries complexes sont simples. Comme vous en avez l'habitude avec tous les spectromètres XRF de Fischer, le XDAL 600 est universellement applicable. Il dispose d'une ouverture quadruple interchangeable électriquement ainsi que d'un filtre primaire triple pour créer des conditions d'excitation idéales pour chaque mesure, ce qui se traduit par une flexibilité maximale pour un large éventail de tâches de mesure. Le processeur d'impulsions numériques DPP+ permet de traiter des taux de comptage élevés pour une précision de mesure maximale et des temps de mesure plus courts.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.