• Spectromètres universels de fluorescence X pour l'analyse des métaux et des métaux précieux, la mesure de l'épaisseur de revêtement et le dépistage RoHS selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568
• Détecteurs à semi-conducteurs haut de gamme (PIN et SDD) assurent une excellente précision de détection et une haute résolution
• XAN 250 et 252 : pour mesurer des éléments légers comme l'aluminium, le silicium ou le soufre
• Collimateur : fixe ou x4 diffèrents, plus petit spot de mesure env. 0,3 mm
• Filtre principal : fixe ou x6 diffèrents
• Support d'échantillon fixe ou platine XY manuelle
• Caméra vidéo pour localiser facilement le meilleur point de mesure
• Hauteur d'échantillon jusqu'à 17cm
Applications
• Analyse non destructive d'alliages dentaires, test de l'argent
• Revêtements multicouches
• Analyse de revêtements fonctionnels d'au moins 10 nm d'épaisseur dans l'industrie électronique et des semi-conducteurs
• Analyse de traces dans la protection des consommateurs, par exemple test de la présence de plomb dans les jouets
• Détermination des alliages métalliques selon les exigences de précision les plus élevées dans l'industrie de la bijouterie et dans les raffineries