Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDAL®

pour l'industrie électroniquede mesurecompact

Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® est le meilleur instrument de mesure de fluorescence X de la série XDL . Comme ses « petits frères », il mesure de haut en bas, ce qui rend le test d'échantillons, même de forme étrange, facile et pratique. Afin d'optimiser les conditions de mesure pour votre tâche, le FISCHERSCOPE X-RAY XDAL est livré avec des collimateurs et des filtres interchangeables en équipement standard. Plus la tâche de mesure est exigeante, plus le type de détecteur est important ! Le FISCHERSCOPE X-RAY XDAL propose donc 3 détecteurs à semi-conducteurs différents. Le PIN diode au silicium est un détecteur de milieu de gamme et bien adapté à la mesure de plusieurs éléments sur une zone de mesure relativement grande. Lorsqu'il est équipé d'un PIN, le XDAL est souvent utilisé pour inspecter les revêtements de matériaux durs. Le détecteur de dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie électronique : par exemple, la mesure de couches d'alliage minces ou l'analyse de matériaux d'éléments très similaires tels que l'or et le platine. C'est l'instrument XRF de confiance pour le contrôle qualité avec les applications ENIG et ENEPIG.