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Spectromètre à fluorescence X-RAY 5000EDXRFde process
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Caractéristiques
- Type
- à fluorescence, EDXRF
- Domaine
- de process
Description
Système de mesure à fluorescence de rayons X pour la mesure et l'analyse en ligne continues de revêtements fins, comme CIGS, CIS ou CdTe, au cours du processus de production
Catalogues
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Coating Thickness
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