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Spectromètre à fluorescence X-RAY XDV-SDD
à fluorescence Xde processpour revêtement

spectromètre à fluorescence
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Caractéristiques

Type
à fluorescence, à fluorescence X
Domaine
de process, pour revêtement, pour l'électronique

Description

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X, avec table X/Y programmable et axe Z, pour répondre aux exigences les plus poussées de la mesure automatisée de revêtements très fins et de l'analyse de traces
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.