Système de test MOSFET MX300C

pour IGBTautomatique

La série MX300C est un système automatisé de test des caractéristiques thermiques pour les semi-conducteurs de puissance. Il se compose d'une unité d'échantillonnage, d'une unité de contrôle de la température, d'une unité d'alimentation et d'une unité de contrôle du système. Il convient principalement aux tests de cycles de puissance et aux tests de résistance thermique des semi-conducteurs de puissance tels que les IGBT (matériaux Si/SiC/GaN), les MOSFET, les DIODE, etc., afin d'évaluer les performances des semi-conducteurs de puissance au cours de leur durée de vie. Fonctions Test de cycle de puissance Test de résistance thermique/Test de résistance thermique transitoire (Rth/Zth) Test de la courbe K Résistance thermique entre la jonction et le boîtier (RJC) Test de courant de fuite de grille (IGES) Avantages du produit Haute précision pour les plaques à température constante. Fonction de diagnostic des défauts en temps réel. Fonction de surveillance à distance. Protection multiple : surchauffe, alarme de fumée, détection de fuite de liquide de refroidissement, etc. Compatibilité : Test IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR. Système d'alimentation UPS : assure la sécurité du système et des données en cas de coupure de courant. . Test de cycle de puissance . Test de résistance thermique/Test de résistance thermique transitoire (Rth/Zth) . Test de la courbe K