Il est principalement utilisé dans l'électronique d'information aérospatiale et d'autres domaines pour déterminer l'adaptabilité environnementale et le test de fiabilité des instruments, des produits électriques, des matériaux, des pièces et des équipements sous basse pression, haute température et basse température ou en même temps, et pour mesurer les paramètres de performance électrique des spécimens lorsqu'ils sont sous tension.
Norme :
GJB150.3-1986 test à haute température ;
GJB150.4-1986 test à basse température ;
GJB150.6-1986 test de hauteur de température ;
IEC 60068-2-1 : 2007, Essais d'environnement - Partie 2-1 : Essais - Essais A : froid, IDT;
IEC60068-2-2:2007, Essais d'environnement - Partie 2-2 : Essais - Essai B : Chaleur sèche, IDT;
GJB360A-1996 Méthode 105 : Essai à basse pression ;
IEC 60068-2-13:1983,Procédures de base pour les essais d'environnement-
Partie 2:EssaiM:Basse pression d'air,IDT
IEC60068-2-40:1976,Méthodes de base pour les essais d'environnement - Partie 2:Essais TestZ/AM:Essais combinés froid/basse pression d'air,IDT
GB/T2423.26-1992 test Z / BM : test complet de haute température / haute pression.
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