Système de test de circuits intégrés BAT-NEDQ-04-V010
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Système de test de circuits intégrés - BAT-NEDQ-04-V010 - Fujian Nebula Electronics Co., Ltd. - portable / modulaire / de précision
Système de test de circuits intégrés - BAT-NEDQ-04-V010 - Fujian Nebula Electronics Co., Ltd. - portable / modulaire / de précision
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Caractéristiques

Applications
de circuits intégrés
Forme
portable, modulaire
Autres caractéristiques
de précision, multicanal

Description

Cet appareil est conçu pour évaluer rapidement les caractéristiques fondamentales et protectrices des cartes de protection de batterie Li-ion à bus unique pour les batteries 1s et 2s, en utilisant la série IC US TI (telle que BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X). Compatible avec une large gamme de circuits intégrés de jauge de gaz, offrant une haute précision et une vitesse de test rapide. Bénéficiant d'un haut degré de précision, ce qui en fait un choix idéal pour notre client exigeant.
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.