Probe card PH Series

Les dernières puces DRAM permettent une réponse extrêmement rapide et fluide des graphiques et de la mémoire cache dans les consoles de jeux et les ordinateurs personnels, ainsi que dans les applications de serveur. Elles permettent d'augmenter la capacité de mémoire dans des téléphones cellulaires de plus en plus petits, dans les technologies de l'information et de la communication et dans d'autres produits électroniques grand public, les semi-conducteurs étant empilés dans des boîtiers compacts de puces multitâches. Le test de ces nouveaux dispositifs DRAM haute performance et haute densité est optimisé par les cartes de sonde de wafers Matrix et PH-Series de FormFactor, car elles améliorent l'efficacité et réduisent le coût global du test des DRAM. Chaque bit doit être testé pour garantir des performances optimales, ce qui rend les tests massivement parallèles au niveau des tranches essentiels pour une production en volume à haut rendement et à moindre coût. L'architecture évolutive des solutions de test DRAM FormFactor s'adapte facilement aux conceptions de puces DRAM à très haut nombre de broches, à la taille et à l'architecture des plaquettes, et fait un usage optimal de la puissance et des contacts de précision à faible force.