Substrats d'étalonnage à ondes millimétriques et submillimétriques, optimisés pour les sondes T-Wave™. Les substrats d'étalonnage TRL multilignes offrent des normes CPW, notamment reflect (short), thru et two lines, et il est recommandé de les utiliser avec le logiciel d'étalonnage WinCal XE™. Certaines structures courtes et ouvertes décalées sont incluses pour des mesures supplémentaires.
- Matériau du substrat : Silicium à haute résistivité
- Épaisseur du substrat : 275 µm
- Constante diélectrique : 11.8
- Z0 nominal : 50 Ω
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