Système de mesure pour wafer TESLA300
pour semi-conducteurmicroscope

Système de mesure pour wafer - TESLA300 - FORMFACTOR - pour semi-conducteur / microscope
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Caractéristiques

Produit mesuré
pour wafer, pour semi-conducteur
Autres caractéristiques
microscope

Description

Le système avancé de sondes de puissance pour semi-conducteurs sur plaquette TESLA300 est une solution intégrée de test à haute puissance qui permet de collecter des données de mesure précises de haute tension et de courant élevé jusqu'à 3 kV (triaxial) / 10 kV (coaxial) et 200 A (standard) / 600 A (courant élevé), en toute sécurité pour l'opérateur. Le TESLA300 offre des capacités d'automatisation de laboratoire et permet d'effectuer des mesures électriques de forte puissance pour la caractérisation des dispositifs, l'ingénierie en grande série et les applications extrêmement difficiles. Il est également parfaitement adapté aux solutions personnalisées, aux applications de production de niche et aux marchés émergents. La technologie brevetée AttoGuard intégrée au TESLA300 améliore considérablement les mesures à faible fuite et à faible capacité. En combinaison avec la technologie brevetée de mandrin thermique TESLA FemtoGuard™ de FormFactor, le TESLA300 fournit un environnement de test entièrement protégé et blindé. Le mandrin haute puissance TESLA FemtoGuard intègre également la technologie MicroVac™ permettant une faible résistance de contact, la manipulation de tranches minces et une dissipation de puissance maximale.

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VIDÉO

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.