Système de mesure de température CM300xi

pour waferpour étalonnagemicroscope

Meilleure performance de mesure de sa catégorie à un haut niveau d'automatisation en laboratoire* La station de mesure CM300xi relève les défis de mesure posés par des environnements extrêmement complexes, tels que les tests sans surveillance sur de petits plots, dans le temps et à des températures multiples. Les meilleures performances de mesure de leur catégorie sont obtenues pour une large gamme d'applications dans un environnement de test blindé contre les interférences électromagnétiques, étanche à la lumière et à l'humidité. Les améliorations apportées à la gestion thermique et les capacités d'automatisation du laboratoire permettent d'améliorer les rendements et d'accélérer la transmission des données. Le CM300xi prend en charge Contact Intelligence™ - une technologie unique qui permet le test autonome des semi-conducteurs. Une combinaison puissante de conception de système innovante et de traitement d'image de pointe fournit une solution indépendante de l'opérateur pour obtenir des données de mesure hautement fiables à tout moment et à toute température. Avec l'unité de manutention, la station de sondage CM300xi combine le test entièrement automatisé des plaquettes avec une précision et une flexibilité maximales. Le système peut manipuler jusqu'à cinquante plaquettes de 200 ou 300 mm fournies dans des cassettes de plaquettes conformes aux normes SEMI.