Système de mesure pour wafer EPS200MMW

microscope

Une solution complète pour les mesures mmW, THz et load-pull à 67 GHz et au-delà. Une solution sur mesure qui répond aux besoins de mesure des composants actifs et passifs dans la gamme de fréquences térahertz. Elle offre une plage dynamique et une directivité maximales, sans compromettre la précision électrique ou la stabilité mécanique. L'EPS200MMW est une solution de palpage dédiée qui comprend tout ce qui est nécessaire pour obtenir efficacement des résultats de mesure précis, en intégrant les méthodes et les concepts de conception les plus connus pour le palpage jusqu'aux fréquences THz.Avec un cadre solide en fonte et une platine à quatre points d'appui, l'EPS200MMW offre une excellente stabilité, ce qui permet d'atteindre facilement une grande précision. Sa base en granit poli élimine toute influence thermique ou mécanique, assurant une excellente planéité et stabilité du système. Une solution d'isolation vibratoire intégrée et une table d'isolation vibratoire en option permettent de maintenir des contacts de haute qualité tout au long des mesures.Les options uniques SIGMA™ intègrent de manière transparente les têtes mmW et les tuners à tirage de charge des principaux fournisseurs d'instruments de mesure, permettant d'obtenir la gamme dynamique et la directivité les plus élevées sans compromettre la précision électrique et la stabilité mécanique. Le microscope SlimVue™ atténue les interférences mécaniques pour les optiques à fort grossissement nécessaires au sondage de petits pavés