Système de mesure pour wafer EPS200RF

pour étalonnagemicroscope

[prisna-wp-translate-show-hide behavior="hide[/prisna-wp-translate-show-hide]Un ensemble complet de mesures RF L'EPS200RF, axé sur les applications, est une solution complète pour des mesures RF de premier ordre jusqu'à 67 GHz. Basé sur la plateforme système PM8, l'EPS200RF comprend tout le matériel, le logiciel et les accessoires dont vous avez besoin pour sonder en toute confiance les dispositifs RF avec des pastilles aussi petites que 25 µm x 35 µm. L'EPS200RF est une solution de sondage avancée dédiée qui comprend tout ce dont vous avez besoin pour obtenir des résultats de mesure précis dans les plus brefs délais, avec un maximum de confiance. Le système intègre les méthodes les plus connues pour le sondage RF jusqu'à 67 GHz, avec la possibilité de sonder des pastilles aussi petites que 25 μm x 35 μm et au-delà.Une conception très rigide et stable du système EPS200RF, avec un cadre moulé et un plateau unique avec un support à quatre points, vous permet d'atteindre une grande précision. Une solution intégrée d'isolation contre les vibrations protège la qualité du contact sur la durée de la mesure. Une optique optimisée, un mouvement X-Y-Z sans jeu des positionneurs RF et un entraînement de séparation des contacts avec une remarquable répétabilité de 1 μm, permettent un placement précis de la sonde et une répétabilité des contacts comparable aux systèmes semi-automatisés. Les câbles de référence de l'industrie prennent en charge la plus grande stabilité de magnitude et de phase des mesures. Choisissez une paire de sondes RF de 40, 50 ou 67 GHz parmi nos familles de sondes Infinity Probe®, |Z| Probe®, ACP et FPC pour obtenir les meilleures performances de contact. Avec le logiciel WinCal XE™, vous bénéficiez des méthodes brevetées LRRM et LRM+ pour une précision d'étalonnage optimale