Système de mesure de température IMS-K-LFN

pour wafer

Système de mesure intégré (IMS) complet et clé en main avec Keysight A-LFNA pour les mesures avancées de bruit basse fréquence en R&D sur les wafers Les experts en applications de FormFactor et de son partenaire Keysight vous aideront à configurer une solution complète et robuste, comprenant.. : - Un système de sonde FormFactor : CM300xi-ULN, SUMMIT200 (autres disponibles) - Options de station de sondes manuelle, semi-automatique et entièrement automatique - Sondes analytiques FormFactor : Sondes DCP (autres disponibles) sur positionneurs manuels ou motorisés - Logiciel d'automatisation FormFactor DC : Assistant de mesure DC autonome pour les mesures de surchauffe sans surveillance sur de petits tampons - Mesures de surchauffe et automatisation complètes de -60°C à +300°C - Analyseur de bruit basse fréquence avancé Keysight (A-LFNA) : E4727B - Logiciel d'automatisation et de modélisation Keysight : PathWave WaferPro (WaferPro Express) - Pour compléter le système : câbles, adaptateurs, matériel de montage, etc. Le système de mesure avancée du bruit basse fréquence le plus productif et le plus précis de l'industrie Les mesures du bruit en 1/f sur les wafers sont un élément essentiel de tout système de test de caractérisation et de modélisation. En raison de la sensibilité requise, ces tests peuvent être facilement corrompus par des interférences provenant de l'extérieur ou de l'intérieur du système de test.