Système de mesure de température IMS-K-Power

pour waferpour semi-conducteurrobuste

Système de mesure intégré (IMS) complet et clé en main avec PDA de Keysight pour les mesures de caractérisation de dispositifs semi-conducteurs de puissance en R&D sur plaquette Les experts en applications de FormFactor et de son partenaire Keysight vous aideront à configurer une solution robuste et complète, comprenant : - Le système de sonde FormFactor : TESLA300, TESLA200, T200, EPS150TESLA (autres disponibles) - Options de stations de sondes manuelles, semi-automatiques et entièrement automatiques - Sondes analytiques FormFactor : sondes haute tension, sondes courant fort, sondes haute puissance - Carte de sondes haute tension / haute puissance T.I.P.S. "LuPo" (en option) - Mesures de surchauffe et automatisation complète de -60°C à +300°C - Analyseur de dispositifs de puissance Keysight (PDA) : B1505A (autres disponibles) - Logiciel d'automatisation et de modélisation Keysight : EasyEXPERT group+ - Pour compléter le système : câbles, adaptateurs, matériel de montage, etc. Le système de caractérisation de dispositifs semi-conducteurs de puissance le plus productif et le plus précis de l'industrie Lorsqu'ils testent des dispositifs Si et GaN/SiC avancés sur une plaquette au lieu d'un emballage, les ingénieurs R&D et les opérateurs de test sont confrontés à des défis majeurs pour collecter des données de haute précision. Il s'agit notamment de la nécessité d'une sonde et d'un système anti-arc à haute tension, de contacts de sonde et de plaquette à faible résistance pour un courant élevé, et d'une manipulation spéciale pour les plaquettes amincies.