Système de mesure de température IMS-K-SiPh

optiquepour waferpour semi-conducteur

Système de mesure intégré (IMS) complet et clé en main avec application Keysight Photonics Suite matérielle et logicielle Les experts en applications de FormFactor et de son partenaire Keysight vous aideront à configurer une solution complète et robuste, incluant : - Un système de sonde FormFactor : CM300xi, SUMMIT200, MPS150 (autres disponibles) - Options de station de sondes manuelle, semi-automatique et entièrement automatique - Sondes analytiques FormFactor : Sondes RF et DC sur positionneurs manuels ou motorisés - Positionnement optique intégré FormFactor HexNano à une, deux ou trois faces - Logiciel d'automatisation photonique FormFactor : SiPh-Tools et Photonics Controller Interface pour les calibrations et le contrôle automatisés des positionneurs optiques - Mesures de température et automatisation de -40°C à +125°C - Lasers accordables, wattmètres et synthétiseur de polarisation : Keysight N7776C, N7778C, N7744C, N7745C, N7786C, N7788C (autres disponibles) - Lasers modulaires : Keysight 81606A, 81607A, 81608A et 81602A (autres disponibles) - Analyseur de paramètres de semi-conducteurs Keysight ou SMUs PXIe pour Optical to Electrical (O-E) : B2901A, B1500A, M9601A PXI SMU (autres disponibles) - Logiciels de test et d'automatisation Keysight : Photonics Application Suite (PAS), PathWave Test Automation avec le plug-in FormFactor Wafer prober - Pour compléter le système : câbles, adaptateurs, matériel de montage, etc.