Système de mesure de température Summit

pour waferpour étalonnagede haute précision

Système de sonde de haute précision qui permet de réaliser des tests sans surveillance à plusieurs températures. D'excellentes performances de mesure sont obtenues pour une large gamme d'applications dans un environnement de test blindé contre les interférences électromagnétiques, étanche à la lumière et à l'humidité, dans une plage de températures allant de -60°C à 300°C. Les systèmes de sonde manuels et semi-automatiques de la série Summit™, avec la technologie PureLine™ et AttoGuard®, vous permettent d'accéder à la gamme complète de vos instruments de test pour les tranches de 200 mm et 150 mm. Quelle que soit votre application : RF/Micro-ondes, caractérisation de dispositifs, fiabilité au niveau des tranches, e-test, modélisation ou amélioration du rendement, les plateformes de la série Summit sont à la pointe de l'industrie en matière de mesures sur tranches. Les stations de mesure de la série Summit sont faciles à configurer avec votre choix de performances de mesure, de fonctionnement manuel ou semi-automatique, de taille de mandrin, de plage thermique et d'options de microscope. Toutes les plates-formes sont compatibles entre -60°C et 300°C afin de garantir une voie de mise à niveau pour répondre à vos besoins futurs. Le puissant logiciel de contrôle de la station de sonde Velox™ offre une navigation facile à l'écran, une cartographie des plaquettes, une automatisation et une intégration transparente avec les analyseurs et les logiciels de mesure. Il permet un fonctionnement simple des positionneurs motorisés et des systèmes thermiques. Pour une large gamme d'applications, la station de sondes Summit alimentée par le logiciel Velox permet d'obtenir une efficacité de test élevée