Détecteur de défauts à transducteurs multiples OmniScan® X3 64

par focalisation en tout pointFTPportable

Protégé par le même boîtier robuste, portable et éprouvé sur le terrain que l’OmniScan X3, le modèle X3 64 offre de puissantes capacités de focalisation soutenues par une capacité d’ouverture d’éléments plus importante, ce qui vous permet d’exploiter pleinement les sondes PA à 64 éléments et la fonction TFM à ouverture à 128 éléments. Profitez de ses performances améliorées pour mener à bien l’inspection complexe de pièces épaisses faites de matériaux atténuants, ainsi que pour élaborer de nouvelles procédures s’appliquant à un plus vaste éventail d’applications. OmniScan™ X3 : appareil de recherche de défauts par ultrasons multiéléments doté de la fonction TFM novatrice Une fiabilité qui s’observe L’OmniScan X3 constitue en lui-même un coffre à outils complet pour l’inspection multiélément. Soutenus par une qualité d’image élevée, les puissants outils qu’il offre, notamment l’imagerie par méthode de focalisation en tout point (TFM) et des fonctions de visualisation avancées, vous permettent de mener à bien votre inspection en toute confiance. Visualisez à l’avance la couverture du faisceau TFM L’outil de cartographie visuelle de l’influence acoustique (Acoustic Influence Map, ou AIM) permet d’afficher instantanément la sensibilité en fonction du mode TFM, de la sonde, des paramètres et du réflecteur simulé qui sont utilisés. L’outil AIM de création du plan d’inspection dissipe les incertitudes : il vous permet de visualiser le résultat d’un mode d’acquisition TFM donné, de voir où la sensibilité cesse et de modifier le plan d’inspection en conséquence.