Détecteur de défauts à transducteurs multiples OmniScan® X3

par focalisation en tout pointportablenumérique

OmniScan™ X3 : appareil multiélément doté de la fonction TFM Une fiabilité qui s’observe L’OmniScan X3 constitue en lui-même un coffre à outils complet pour l’inspection multiélément. De plus, des outils puissants, comme les images TFM (total focusing method) et des fonctionnalités de visualisation avancées, vous permettent de mener votre inspection à bien en toute confiance. Fonction TFM novatrice •Imagerie améliorée offrant un affichage clair et une bonne résolution pour les petits défauts •Visualisation à un stade précoce – soit au moment le plus important – des défauts résultant de l’attaque par l’hydrogène à haute température (HTHA) •Outil AIM intégré fournissant une cartographie visuelle de l’influence acoustique facilitant la visualisation de la sensibilité TFM et la modification des paramètres en conséquence •Possibilité d’utiliser jusqu’à 4 modes de propagation TFM en simultané, ce qui facilite l’interprétation et la mesure des défauts Technologie multiélément améliorée •Deux fois plus rapide que l’OmniScan MX2 (fréquence de répétition des impulsions) •Un seul menu TOFD assurant un flux de travaux accéléré •Étalonnage multiélément rapide et amélioré procurant une satisfaction accrue •Étendue d’amplitude élevée de 800 % réduisant le besoin d’un second balayage •Prise en charge intégrée des sondes Dual Linear Array™ et Dual Matrix Array™ accélérant la création de configurations Mettez-vous au travail rapidement Le plan d’inspection intégré, l’étalonnage rapide amélioré et l’interface utilisateur simplifiée éliminent certaines étapes de travail pour vous aider à effectuer la configuration de votre inspection en très peu de temps.