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Microscope optique MX63 seriesde laboratoired'inspectionpour inspection de wafers en ligne
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Caractéristiques
- Type
- optique
- Applications
- de laboratoire, d'inspection, pour inspection de wafers en ligne
- Technique d'observation
- à fluorescence, en champ sombre
- Autres caractéristiques
- modulaire, ergonomique, pour semi-conducteur, pour grand échantillon, pour wafer
- Résolution spatiale
1 µm
Description
Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres échantillons de grande taille. Leur conception modulaire vous permet de choisir les composants dont vous avez besoin afin d'adapter le système à votre application.
Ces microscopes ergonomiques et conviviaux vous aident à augmenter la production tout en garantissant le confort des inspecteurs pendant leur travail. Associé au logiciel d’analyse d'images OLYMPUS Stream, votre flux de tâches, de l'observation à la création de rapports, peut être simplifié.
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.