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Système de test de laboratoire TRA-200
compactde précision

Système de test de laboratoire - TRA-200 - EVERFINE Corporation - compact / de précision
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Caractéristiques

Domaine
de laboratoire
Forme
compact
Autres caractéristiques
de précision

Description

SYSTÈME D'ANALYSE DE LA STRUCTURE DE RÉSISTANCE THERMIQUE DES LEDS TRA-200/300 Adopter des technologies brevetées avec une fonction d'analyse de structure de haute précision L'analyseur de structure de résistance thermique des LED TRA-200/300 est conçu pour mesurer la résistance thermique, la résistance thermique relative et la température de jonction ainsi que les courbes correspondantes Le système peut également analyser automatiquement la fonction de structure thermique cumulative et différentielle, ce qui est essentiel pour l'analyse et l'évaluation de la gestion thermique des LED. Principaux standards de référence ● EIA/JESD 51-1~14 Méthode de mesure thermique des circuits intégrés ● MIL-STD-750D Méthode d'essai pour les dispositifs à semi-conducteurs ● SJ 20788-2000 Méthode de test de la résistance thermique des diodes à semi-conducteurs ● GB / T 4023-1997 Dispositifs à semi-conducteurs Dispositifs discrets et courants intégrés Partie 2 : Diodes de redressement ● QB / T 4057-2010 Exigences de performance des diodes électroluminescentes pour l'éclairage général Paramètre Adopter des technologies brevetées avec une fonction d'analyse de structure de haute précision L'analyseur de structure de résistance thermique des LED TRA-200/300 est conçu pour mesurer la résistance thermique, la résistance thermique relative et la température de jonction ainsi que les courbes correspondantes Le système peut également analyser automatiquement la fonction de structure thermique cumulative et différentielle, ce qui est essentiel pour l'analyse et l'évaluation de la gestion thermique des LED. Principaux standards de référence ● EIA/JESD 51-1~14 Méthode de mesure thermique des circuits intégrés ● MIL-STD-750D Méthode d'essai pour les dispositifs à semi-conducteurs ● SJ 20788-2000 Méthode de test de la résistance thermique des diodes à semi-conducteurs ● GB / T 4023-1997 Dispositifs à semi-conducteurs Dispositifs discrets et courants intégrés Partie 2 : Diodes de redressement

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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