SYSTÈME D'ANALYSE DE LA STRUCTURE DE RÉSISTANCE THERMIQUE DES LEDS TRA-200/300
Adopter des technologies brevetées avec une fonction d'analyse de structure de haute précision
L'analyseur de structure de résistance thermique des LED TRA-200/300 est conçu pour mesurer la résistance thermique, la résistance thermique relative et la température de jonction ainsi que les courbes correspondantes
Le système peut également analyser automatiquement la fonction de structure thermique cumulative et différentielle, ce qui est essentiel pour l'analyse et l'évaluation de la gestion thermique des LED.
Principaux standards de référence
● EIA/JESD 51-1~14 Méthode de mesure thermique des circuits intégrés
● MIL-STD-750D Méthode d'essai pour les dispositifs à semi-conducteurs
● SJ 20788-2000 Méthode de test de la résistance thermique des diodes à semi-conducteurs
● GB / T 4023-1997 Dispositifs à semi-conducteurs Dispositifs discrets et courants intégrés Partie 2 : Diodes de redressement
● QB / T 4057-2010 Exigences de performance des diodes électroluminescentes pour l'éclairage général
Paramètre
Adopter des technologies brevetées avec une fonction d'analyse de structure de haute précision
L'analyseur de structure de résistance thermique des LED TRA-200/300 est conçu pour mesurer la résistance thermique, la résistance thermique relative et la température de jonction ainsi que les courbes correspondantes
Le système peut également analyser automatiquement la fonction de structure thermique cumulative et différentielle, ce qui est essentiel pour l'analyse et l'évaluation de la gestion thermique des LED.
Principaux standards de référence
● EIA/JESD 51-1~14 Méthode de mesure thermique des circuits intégrés
● MIL-STD-750D Méthode d'essai pour les dispositifs à semi-conducteurs
● SJ 20788-2000 Méthode de test de la résistance thermique des diodes à semi-conducteurs
● GB / T 4023-1997 Dispositifs à semi-conducteurs Dispositifs discrets et courants intégrés Partie 2 : Diodes de redressement
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