Dans ce type d'essais, les objets sous test sont placés dans un JIG où ils restent en fonctionnement et dans des conditions exigeantes, telles qu'une suralimentation, pendant le cycle, ils sont soumis à des tests de stress pour vérifier s'il y a un changement dans le fonctionnement du produit. Possibilité de tester 9 DUT simultanément, si une cadence de test plus élevée est nécessaire, il est possible d'augmenter le nombre de machines en série en gardant le contrôle principal du cycle de test sur une seule machine.
- Rack de contrôle des objets sous test comprenant 16 entrées et 16 sorties ;
- Rack de contrôle de la communication CAN ;
- rack de contrôle de la communication USB ;
- Équipement de mesure multicanal pour effectuer les mesures nécessaires sur les objets sous test ;
- Alimentation variable pour alimenter les objets sous test ;
- Système de rotation automatique pour une insertion plus efficace des objets sous test.
---