Équipement de test automatique S500 BTE

pour circuits imprimés

Le S500 Bench Test Equipment (BTE) est personnalisé pour tester l'unité remplaçable en ligne (LRU) afin de déterminer l'unité remplaçable au niveau le plus bas (LLRU) défectueuse. Une fois qu'une LLRU défectueuse est découverte, un programme d'application distinct spécialement conçu pour la LLRU est exécuté pour isoler davantage le défaut. Le S500 peut tester de manière diagnostique les circuits imprimés (PCB) à un groupe d'ambiguïté spécifié en utilisant un palpeur de point de test assisté par l'opérateur. Le système de test S500 peut également exporter des données de test qui seront utilisées par un contour de diagnostic séparé, tel que le système de test PinPoint. La base S500 comprend un rack de 19 pouces comprenant un PC industriel, des extensions d'interconnexion de composants périphériques pour châssis d'instrumentation (PXI) pour les ressources de test National Instruments (NI), des alimentations et un récepteur pour tête de test. Le logiciel et les contrôleurs de système nécessaires à l'automatisation du processus de test et à l'évaluation des résultats sont stockés sur le PC interne. Les appareils sont commandés par des programmes d'application pour appliquer des signaux et effectuer des mesures sur l'unité sous test (UUT). Tous les signaux de test nécessaires sont disponibles sur le panneau de tête de test et sont connectés à l'USE à l'aide d'un adaptateur de test d'interface (ITA). Les programmes d'application sont accessibles et exécutés à l'aide du logiciel Diagnosys Executive Software (ES). L'interface utilisateur ES est une interface utilisateur graphique (GUI) avec des menus et des fonctionnalités de type système d'exploitation Windows courants, avec une saisie facile pour les nouveaux utilisateurs.