Le X-Scan ME est une famille complète d'appareils photo numériques prêts à l'emploi et d'accessoires de détection critiques, conçus pour les environnements industriels difficiles. Cette série est une solution idéale pour le tri, le calibrage, le contrôle qualité, l'analyse des matériaux et l'optimisation de processus de fabrication complexes dans les industries du recyclage, de l'agroalimentaire, de l'exploitation minière et autres. Le X-Scan ME convient parfaitement aux applications de haut niveau qui exigent une capacité de discrimination des matériaux au-delà des configurations bi-énergie classiques, tout en recherchant la robustesse, la facilité d'intégration du système et la facilité d'entretien pour une meilleure performance de numérisation et une meilleure expérience de l'utilisateur final.
Le X-Scan ME est équipé d'un contrôle précis de l'écartement et de l'alignement des capteurs, et d'une configuration VHF (très haut flux). La série est alimentée par des cartes de détection X-Card ME3 XC uniques en leur genre qui offrent une capacité de comptage de photons doublée par rapport à la génération précédente de cartes. En plus du mode multi-énergie, le X-Scan ME a une plage d'énergie effective de 20 à 160 keV avec des modes de comptage de photons configurables pour faciliter l'utilisation des avantages de la puissante technologie multi-énergie pour les besoins de balayage polyvalents.
La série est construite sur une plateforme facilement modulable et évolutive. Elle se caractérise par un boîtier robuste, classé IP67, et des interfaces mécaniques et électriques fiables. Il possède un circuit de refroidissement liquide intégré pour une gestion thermique des détecteurs fiable et résistante aux contaminants. Le X-Scan ME est livré avec une unité de contrôle robuste et adaptée à l'application, le X-IM ME3-H.
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