Machine de gravure PCB chimique Infinity FA

Le système Infinity FA est une solution rentable pour la gravure et le profilage de dispositifs à haut débit, fournissant des résultats rapides à un faible coût de propriété. Il offre une excellente uniformité de retardement et des dommages minimes sur de grandes surfaces. L'ensemble SIMS entièrement intégré fournit la précision requise pour localiser les petits défauts en vue d'une analyse plus approfondie. L'utilisation de plusieurs technologies de gravure permet de faire correspondre les vitesses de gravure des différents composants d'une même couche, ce qui permet de retirer uniformément l'ensemble de la couche, quelle que soit sa composition chimique. Soutenu par l'engagement de Denton en matière de partenariat, l'outil Infinity FA offre des performances de qualité et un temps de fonctionnement élevé du système. Notre équipe de service mondiale vous fournira un programme de maintenance préventive fiable et une assistance réactive afin de garantir une productivité et des résultats de production optimaux. Analyse des défaillances des semi-conducteurs Retardement Amélioration du rendement Rétroingénierie Analyse des défaillances des micro-afficheurs Le système Infinity FA est un outil de gravure haute performance conçu pour la préparation d'échantillons pour l'analyse des défaillances, le profilage de couches minces critiques et le retardement dans la fabrication de semi-conducteurs. La gravure par faisceau d'ions (IBE), la gravure par faisceau d'ions réactifs (RIBE) et la gravure par faisceau d'ions assistée chimiquement (CAIBE) sont utilisées pour fournir des taux de gravure uniformes pour les couches multi-matériaux. Le système comprend un progiciel SIMS robuste pour l'analyse de l'enlèvement des couches minces. Il est conforme aux normes ESD et est entièrement contrôlé par ordinateur pour une automatisation et une répétabilité élevées. Un spectromètre de masse d'ions secondaires (SIMS) permet un contrôle précis du point final pour enlever les couches minces des plaquettes de semi-conducteurs et identifier les défauts, afin d'améliorer le rendement du processus.