Le FF20 CT est le système microCT expert pour la R&D, l'analyse des défauts ou la métrologie CT. Il est conçu pour l'inspection de très petits composants et objets dans l'industrie électronique, la science des matériaux et d'autres domaines de recherche.
- Analyses précises des matériaux en laboratoire
- Visibilité des détails en 2D jusqu'à 150 nm avec un tube de transmission de 190 kV
- Manipulation précise et stabilité de la température grâce à la base en granit
- Interface graphique intuitive Geminy avec écrans tactiles
- Version métrologique optionnelle avec un MPESD = 3,9 µm + L/75 [L en mm]
Essais non destructifs à haute énergie
Plus les composants sont petits, plus il est important d'obtenir des scanners à rayons X et des tomographies fiables et de haute précision pour l'assurance qualité, le contrôle des processus et les inspections de petites séries. Les systèmes haute résolution extrêmement compacts Comet Yxlon FF20 CT et FF20 CT Metrology sont spécialement conçus pour l'inspection de pièces très fines et de structures internes. Avec une énergie relativement élevée de 190 kV, même les pièces denses peuvent être analysées dans les moindres détails.
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