Microscope électronique à balayage à émission de champ SEM4000X

d'inspectionde laboratoirepour l'analyse de matériau

Spécifications du microscope FESEM CIQTEK SEM4000X Optique électronique - Résolution : 0.9 nm@ 30 kV, SE 1.2 nm@15 kV, SE 1.9 nm@1 kV, SE 1.5 nm@1 kV (décélération du faisceau ultra) 1 nm@15 kV (décélération du faisceau ultra) Tension d'accélération : 0,2 kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid) : 1 ~ 1,000,000 x Type de canon à électrons : Pistolet à électrons à émission de champ Schottky Chambre à échantillon - Caméra : Caméras doubles (navigation optique + surveillance de la chambre) Portée de la platine : X : 110 mm Y : 110 mm Z : 50 mm T : -10°~ +70° R : 360° Détecteurs et extensions SEM - Standard : Détecteur d'électrons dans l'objectif : UD-BSE/UD-SE Détecteur Everhart-Thornley : LD En option : Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) Détecteur de microscopie électronique à transmission à balayage rétractable (STEM) Détecteur à faible vide (LVD) Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX) Modèle de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) Sas d'échange d'échantillons (4 pouces /8 pouces) Panneau de commande à boule de commande et à bouton Technologie du mode de décélération de l'ultra-faisceau Le CIQTEK SEM4000X est un FE-SEM stable, polyvalent, flexible et efficace. Il relève facilement les défis de l'imagerie haute résolution pour différents types d'échantillons. Il peut être équipé d'un mode de décélération de l'ultra-faisceau pour améliorer encore la résolution à basse tension. # Haute résolution # Technologie multi-détecteur # Alignement simplifié # Construit à partir d'une plate-forme haut de gamme # Technologie du mode de décélération de l'ultra-faisceau # Excellente capacité d'extension