Microscope électronique à balayage à émission de champ SEM4000X

d'inspectionde laboratoirepour l'analyse de matériau

Le SEM4000X est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FE-SEM) stable, polyvalent, flexible et efficace. Il atteint une résolution de 1.9nm@1.0kV, ce qui lui permet de relever facilement les défis de l'imagerie à haute résolution pour divers types d'échantillons. Il peut être équipé d'un mode de décélération de l'ultrafaisceau pour améliorer encore la résolution à basse tension. Le microscope utilise la technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons en colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant des performances de haute résolution. Le détecteur d'électrons monté dans la chambre (LD) incorpore un scintillateur à cristaux et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité accrues, ce qui permet d'obtenir des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface graphique est conviviale et comprend des fonctions d'automatisation telles que la luminosité et le contraste automatiques, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, ce qui permet de capturer rapidement des images à très haute résolution.