Microscope filament de tungstène SEM 3300

électronique à balayagepour analysepour l'analyse de matériau

SEM3300 est une nouvelle génération de microscope électronique à balayage à filament de tungstène avec une résolution supérieure à 2,5 nm à 20 kV. La conception spéciale de l'optique électronique permet de dépasser la limite de résolution du filament de tungstène et d'atteindre une résolution de 5 nm à une faible tension de 1 kV. Il possède une excellente qualité d'imagerie, peut obtenir des images à haute résolution dans différentes plages de champ de vision et offre une grande profondeur de champ. Sa grande capacité d'extension permet d'explorer le monde de l'imagerie microscopique. Caractéristiques 1.Résolution：2.5 nm @ 20 kV, SE；4 nm @ 3 kV, SE；5 nm @ 1 kV, SE 2.Grossissement：1 ~ 300 000 x 3.Tension d'accélération：0.1 kV~ 30 kV 4."SuperTunnel"：Technologie d'optique électronique 5.Imagerie haute résolution à basse tension：Réalisée grâce à la technologie de décélération du faisceau de la colonne d'optique électronique 6.Objectif électromagnétique et électrostatique combiné：Réduit efficacement l'aberration de l'objectif, améliore la résolution de l'image à basse tension, compatible avec l'imagerie d'échantillons magnétiques 7.Technologie de détection d'électrons en colonne：Améliore l'efficacité de capture des électrons du signal, permet d'obtenir un rapport signal/bruit élevé à haute résolution un rapport signal/bruit élevé à haute résolution 8.Navigation optique : localisation rapide des coordonnées de l'échantillon ciblé et des régions d'intérêt (ROI) 9.*AutoMap : acquisition et assemblage d'images entièrement automatisés, cartographie d'un grand champ de vision