Microscope filament de tungstène SEM 3300

électronique à balayagepour analysepour l'analyse de matériau

Spécifications du microscope MEB CIQTEK SEM3300 *Optique électronique Résolution : 2,5 nm à 15 kV, SE 4 nm à 3 kV, SE 5 nm à 1 kV, SE Tension d'accélération : 0,1 kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid) : 1 x ~ 300 000 x *Chambre à échantillons Caméra : Navigation optique Surveillance de la chambre Type de scène : 5 axes motorisés compatibles avec le vide Gamme XY : 125 mm Gamme Z : 50 mm Gamme T : - 10° ~ 90° Gamme R : 360° *Détecteurs SEM Standard : Détecteur d'électrons à lentille (Inlens) Détecteur Everhart-Thornley (ETD) En option : Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED) Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX) Modèle de diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD) *En option Sas d'échange d'échantillons Panneau de commande à boule de commande et à bouton *Interface utilisateur Système d'exploitation : Windows Navigation : Navigation optique, navigation rapide par geste, boule de commande (en option) Fonctions automatiques : Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmateur automatique Le microscope électronique à balayage (MEB) CIQTEK SEM3300 intègre des technologies telles que l'optique électronique "Super-Tunnel", les détecteurs d'électrons à l'intérieur de la lentille et l'objectif composé électrostatique et électromagnétique. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution de longue date de ce type de microscope est dépassée, ce qui permet au microscope à filament de tungstène d'effectuer des tâches d'analyse à basse tension qui n'étaient auparavant réalisables qu'avec des microscopes à émission de champ. *Dépasser la limite de résolution des MEB à filament de tungstène *Détecteur d'électrons dans la lentille *Objectif électromagnétique et électrostatique combiné *Utilisation plus sûre *Excellente extensibilité