Microscope électronique à balayage SEM2100

de laboratoirepour l'analyse de matériaupour semi-conducteur

Spécifications du microscope MEB CIQTEK SEM2100 Optique électronique Résolution : 3.9 nm à 20 kV, SE 4.5 nm à 20 kV, BSE Tension d'accélération : 0,5 kV ~ 30 kV Grossissement (Polaroid) : 1 x ~ 300 000 x Chambre à échantillons Caméra : Navigation optique Surveillance de la chambre Type de scène : 3 axes, axe XYZ compatible avec le vide, motorisé Gamme XY : 125 mm Gamme Z : 50 mm Détecteurs SEM Standard : Détecteur Everhart-Thornley (ETD) En option : Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED) Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX) Modèle de diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD) En option - Sas d'échange d'échantillons Panneau de commande à boule de commande et à bouton Interface utilisateur - Système d'exploitation : Windows Navigation : Navigation optique, navigation rapide par geste, boule de commande (en option) Fonctions automatiques : Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmateur automatique Le microscope CIQTEK SEM2100 se caractérise par un processus d'utilisation simplifié et adhère aux normes de l'industrie et aux habitudes des utilisateurs dans la conception de son "interface utilisateur". Malgré son interface logicielle minimaliste, il offre des fonctions automatisées complètes, des outils de mesure et d'annotation, des capacités de gestion du post-traitement des images, une navigation optique dans les images, etc. La conception du SEM2100 concrétise parfaitement l'idée de "Simplicité sans sacrifier la fonctionnalité". #Design Ul intuitif, propre et facile à utiliser #Fonctions d'automatisation complètes #Fonctions intégrées de post-traitement d'images #Fonctions intégrées de post-traitement des images #Navigation optique standard #Excellente évolutivité #Plus facile à utiliser