Microscope électronique à balayage SEM2100de laboratoirepour l'analyse de matériaupour semi-conducteur
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Caractéristiques
- Type
- électronique à balayage
- Applications
- de laboratoire, pour l'analyse de matériau, pour matériaux, pour semi-conducteur, pour batterie
- Ergonomie
- droit
- Qualité des objectifs
- plan
- Technique d'observation
- in-situ
- Configuration
- au sol
- Source de lumière
- à illumination coaxiale
- Source d'électrons
- filament de tungstène
- Source d'ions
- à gallium
- Conception de lentille
- avec correcteur d'aberration
- Type de détecteur
- d'électrons rétrodiffusés, in-lens SE, EBSD
- Options et accessoires
- assisté par ordinateur, USB
- Autres caractéristiques
- d'observation, de haute définition
- Grossissement
300 000 unit
- Résolution spatiale
3,9 nm, 4,5 nm
Description
Le SEM2100 est un microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène convivial et accessible, conçu pour les utilisateurs novices.
Il se caractérise par un processus d'utilisation simplifié et respecte les normes industrielles et les habitudes des utilisateurs dans la conception de son interface utilisateur. Malgré son interface logicielle minimaliste, il offre une gamme complète de fonctions automatisées, d'outils de mesure et d'annotation, de capacités de gestion du post-traitement des images, de navigation dans les images optiques, etc. Ce concept incarne parfaitement l'idée selon laquelle "la simplicité ne compromet pas la fonctionnalité".
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.