Appareil de contrôle de semi-conducteur

L'inspection des dispositifs semi-conducteurs est une étape cruciale du processus de production microélectronique. Elle implique une inspection très précise des défauts à plusieurs étapes de la production, l'enregistrement et la sortie des résultats et la génération d'informations relatives à l'assurance qualité qui peuvent être consultées et exploitées immédiatement afin d'améliorer le rendement global. CIMS propose des solutions d'inspection automatisées pour les plaquettes à motifs ainsi que divers produits de fan-out et fan-in pour le WLP (wafer-leve-packaging) et le PLP (panel-level-packaging). Les AOI de CIMS pour la microélectronique aident nos clients à augmenter considérablement le rendement de leur processus de fabrication ainsi qu'à améliorer la qualité du produit final. Métrologie et options d'inspection complémentaires Les options métrologiques complémentaires de CIMS sont conçues pour améliorer encore les capacités d'inspection des dispositifs à semi-conducteurs. Ces options peuvent être intégrées à l'équipement CIMS, offrant ainsi une nouvelle couche d'assurance qualité à nos clients. Les options complémentaires de CIMS comprennent des capacités uniques de métrologie 2D et 3D qui permettent d'effectuer des mesures avancées pendant le cycle d'inspection normal. Cela élimine le besoin d'un système de métrologie dédié hors ligne et raccourcit le cycle de retour d'information de l'assurance qualité.