Profilomètre à stylet CP200

Le Stylus Nano Profiler CP200 est un instrument de mesure par contact ultra-précis pour la mesure de la rugosité de surface et du profil microscopique, tel que la hauteur de marche micro-nano, l'épaisseur du film. Le CP200 utilise un capteur de déplacement avec une résolution inférieure à l'angström, une acquisition de signal à très faible bruit, un contrôle de mouvement ultrafin et une technologie d'algorithmes d'étalonnage avec d'excellentes performances. Sa force de contact est extrêmement faible et il n'y a pas d'exigences particulières pour mesurer les caractéristiques de réflexion de la surface, les types de matériaux et la dureté des matériaux. Par conséquent, il est largement utilisé pour mesurer la surface microscopique dans les industries des semi-conducteurs et des semi-conducteurs composés, des LED à haute luminosité, de l'énergie solaire, des systèmes microélectromécaniques MEMS, des écrans tactiles, de l'automobile et de l'équipement médical.