Microscope à balayage de sonde EIKOS-UV™

pour la recherche3D

La sonde atomique qui permet une nano-analyse 3D de routine et de haute performance pour la recherche et l'industrie S'appuyant sur 30 ans de succès dans l'instrumentation et l'application de la tomographie par sonde atomique, CAMECA a développé EIKOS-UV™, le microscope à sonde atomique pour le développement rapide d'alliages et la recherche sur les matériaux à l'échelle nanométrique. La sonde atomique EIKOS offre : Tomographie tridimensionnelle avec caractérisation à l'échelle nanométrique des microstructures Détection d'atomes uniques à haute résolution spatiale avec une grande efficacité Sensibilité égale à tous les éléments et à leurs isotopes Mesure quantitative de la composition (de l'échelle sub-nm à l'échelle proche du micron) Disponible en configuration tension ou tension et laser Méthodes standard de préparation des échantillons EIKOS est disponible en 2 configurations : Le système EIKOS de base intègre un réflectron qui offre un excellent pouvoir de résolution de la masse et un excellent rapport signal/bruit. Une contre-électrode intégrée pré-alignée garantit la facilité d'utilisation et une grande fiabilité. Le système à impulsions de tension fournit des données de très haute qualité pour une grande variété d'applications métallurgiques. Le système EIKOS-UV entièrement configuré combine toutes les caractéristiques exceptionnelles de l'EIKOS de base (pulsation de tension, fonctionnalité basée sur le réflectron, contre-électrode pré-alignée) et ajoute un module de pulsation laser 355 nm entièrement intégré avec une conception de spot focalisé contrôlée par ordinateur pour permettre l'accès à une gamme d'applications plus large. Le système EIKOS de base peut être mis à niveau sur le terrain pour devenir l'EIKOS-UV.