Microscope à balayage de sonde LEAP 5000 series

pour la recherche3D

microscope à sonde atomique 3D avec une performance analytique sub-nanométrique 3D inégalée Le LEAP 5000 est le microscope à sonde atomique de pointe de CAMECA, offrant une efficacité de détection supérieure pour une grande variété de métaux, de semi-conducteurs et d'isolants : plus de 40 % d'atomes supplémentaires détectés par nm3 analysé. Le LEAP 5000 recueille des informations à l'échelle nanométrique à partir d'un ensemble de données à l'échelle microscopique en seulement quelques heures et offre une meilleure exactitude de la composition, une plus grande précision et des limites de détection plus élevées, un meilleur débit d'échantillons ainsi qu'un rendement accru et une reproductibilité ultime. L'efficacité de détection optimisée offre une sensibilité inégalée Grand champ de vision et uniformité de la détection - la meilleure résolution spatiale en 3D Excellentes capacités de détection multi-coups pour les mesures de composition les plus précises Taux de répétition rapide et variable pour l'acquisition de données à très grande vitesse Plate-forme robuste et ergonomique pour une plus grande facilité d'utilisation et un temps de connaissance réduit Surveillance en temps réel pour garantir des données de la plus haute qualité à chaque mesure Des algorithmes avancés de contrôle du laser permettent d'améliorer de façon mesurable le rendement des échantillons La famille LEAP 5000 Le LEAP 5000 XS associe une nouvelle technologie de trajectoire de vol à des performances accrues du détecteur pour offrir un meilleur champ de vision tout en atteignant une efficacité de détection sans précédent ~ 80 %, la plus élevée de toutes les techniques analytiques de ce type ! En outre, le module d'impulsion laser avancé, capable d'offrir des taux de répétition allant jusqu'à 2 MHz, fait de la LEAP 5000 XS le nec plus ultra en matière d'efficacité et de productivité.