Spectromètre FT-IR CryoSAS
pour R&Drobustede grande sensibilité

Spectromètre FT-IR - CryoSAS - Bruker Optics GmbH & Co. KG - pour R&D / robuste / de grande sensibilité
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Caractéristiques

Type
FT-IR
Domaine
pour R&D
Autres caractéristiques
robuste, de grande sensibilité

Description

Le système CryoSAS (Cryogenic Silicon Analysis System) est un ensemble complet qui permet d'analyser les impuretés du silicium à basse température(<15K). Le CryoSAS a été optimisé en vue d'un fonctionnement en milieu industriel. Le CryoSAS associe un spectromètre IRTF performant intégré et un ensemble de refroidissement en circuit fermé sans apport d'hélium liquide. Le CryoSAS intègre des composants à la pointe de la technologie afin de faire des analyses de silicium dans un milieu exigeant. Le CryoSAS est opérationnel avec une automatisation élevée en incluant la production de rapports précis sur les résultats de chaque analyse.
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.