Spectrométrie à dispersion d'énergie pour MEB, FIB-SEM et EPMA
La dernière génération de QUANTAX EDS de Bruker comprend la série de détecteurs XFlash® 7, qui offre le plus grand angle solide pour la collecte des rayons X (également appelé angle de collecte) et le débit le plus élevé.
Le XFlash® 7 continue d'établir des normes de performance et de fonctionnalité en spectrométrie à dispersion d'énergie pour le microscope électronique à balayage (MEB), le faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM) et le micro-analyseur à sonde électronique (EPMA).
La famille de détecteurs XFlash® 7 offre également des solutions optimisées pour l'analyse EDS d'échantillons transparents aux électrons dans le TEM et le SEM, ainsi que l'unique XFlash® FlatQUAD, un détecteur conçu pour répondre à vos questions sur les échantillons difficiles.
Technologie de pointe, grand angle de collecte, traitement des impulsions de dernière génération, temps de fonctionnement du système maximisé grâce à la maintenance prédictive.
Performance spectrale maximale obtenue avec la meilleure résolution énergétique.
Précision accrue des résultats grâce à des algorithmes de quantification sophistiqués et à une combinaison unique de méthodes sans norme et basées sur des normes.
Obtenez plus rapidement des résultats très précis grâce à des systèmes EDS optimisés individuellement. Ils garantissent une vitesse et une précision inégalées.
Réduisez le temps de mesure grâce à un débit maximal, permettant la cartographie et la quantification à tous les réglages sans limitation de la taille des données.
Analysez les échantillons difficiles dès maintenant, grâce à la collecte géométrique la plus efficace des rayons X générés.
Bénéficiez de résultats de quantification précis et fiables grâce à une géométrie optimisée qui minimise le bruit de fond et évite l'absorption.
Détectez de petites quantités avec une meilleure limite de détection, un bruit de fond plus faible et moins d'absorption.
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