Détecteur de rayons X QUANTAX EDS
de vitessed'ionsNO

Détecteur de rayons X - QUANTAX EDS - Bruker Handheld XRF Spectrometry - de vitesse / d'ions / NO
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Caractéristiques

Élément détecté
de rayons X, de vitesse, d'ions
Type de gaz
NO
Technologie
à balayage, à faisceau
Application
pour sonde

Description

Limite supérieure d'énergie sans précédent Identification et quantification sans équivoque de tous les éléments présents Modèles de quantification TEM Réussir en TEM, STEM et T-SEM grâce à une quantification puissante et facile à utiliser, basée sur les facteurs théoriques et expérimentaux de Cliff-Lorimer, ainsi que sur l'interpolation du facteur Zeta Résolution stable Cartographiez des structures périodiques (atomes, couches) avec une grande stabilité et en utilisant des fonctions améliorées de correction de la dérive Logiciel d'analyse ESPRIT, flexible et facile à utiliser, avec une interface utilisateur ouverte : vous voyez ce que vous faites. Option d'analyse hors ligne avec accès individuel ou en réseau local pour les réseaux d'étudiants ou de laboratoires. Spectroscopie quantitative à rayons X à dispersion d'énergie (EDS) sophistiquée pour l'exploration complète des données : Options pour les étapes de quantification : suggestions par défaut pour une utilisation facile, configuration individuelle, modification détaillée et sauvegarde/chargement des recettes 3 approches de quantification différentes couvrant tous les scénarios possibles sur la base des facteurs Cliff-Lorimer théoriques et expérimentaux ainsi que des facteurs Zeta et de l'interpolation des facteurs Zeta manquants Les lignes d'éléments à haute énergie spécifiques au TEM au-dessus de 40 keV sont disponibles pour la quantification, ce qui garantit des résultats sans ambiguïté Choix entre 3 modèles d'arrière-plan vital : un modèle physique pour la masse et un modèle physique pour les lamelles minces, ainsi qu'un modèle mathématique Correction de l'absorption incluse dans la quantification Cliff-Lorimer Une expertise de longue date en matière de SDE garantit la configuration de la meilleure solution pour votre microscope spécifique (STEM, TEM ou SEM) grâce à la conception de détecteurs à faible encombrement et à l'optimisation géométrique pour chaque mât de microscope et chaque type de bride de SDE

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VIDÉO

Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.