Diffractomètre à rayons X D8 ADVANCE Plus

pour poudres

Le D8 ADVANCE Plus combine une flexibilité maximale avec une facilité d'utilisation inégalée, répondant parfaitement aux besoins analytiques des échantillons épitaxiaux et polycristallins de films minces, de vrac et de poudre dans des conditions ambiantes et non ambiantes. Grâce à l'optique TRIO, la commutation entre les différentes géométries d'instruments se fait par simple pression d'un bouton, de manière fiable et sans intervention de l'utilisateur. Une diffraction sur poudre inégalée avec la géométrie de Bragg-Brentano Superbe résolution à haute intensité sur les échantillons épitaxiaux Diffraction optimale des couches minces polycristallines dans la géométrie de l'incidence du pâturage XRR pour déterminer l'épaisseur du film de 0,1 nm à 250 nm