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Système de cartographie de wafer E142

système de cartographie de wafer
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Caractéristiques

Spécifications
de wafer

Description

Une clé pour la traçabilité d'un seul dispositif - Préparez-vous à la prochaine étape de la production sans encre. Les circuits intégrés deviennent de plus en plus complexes, denses, petits et de qualité critique, avec un petit défaut. En les regardant simplement, vous ne pouvez pas savoir s'ils sont utilisables ou non. C'est là que le Substrate Mapping E142 entre en jeu. E142 applique une représentation du monde physique sous forme de carte virtuelle à un grand nombre de substrats courants, tels que les tranches, les bandes et les plateaux. Besi Suisse a mis en œuvre le Strip Mapping basé sur E142 sur l'Esec Die Bonder 2100. Identification des bandes Lecture de DataMatrix 2D jusqu'à 100 µm de points Lecture du code-barres CODE39 jusqu'à des barres de 200 µm Emplacement préféré de l'identification de la bande : Près du bord d'attaque ou du bord de fuite Structure de mappage de bande conforme à la norme SEMI E142 Communication conforme à la norme E142.2 SECS II Téléchargement et chargement configurables de cartes de bandes Génération de BinCodeMap configurable Génération de TransferMap configurable Cartographie de wafer via Stream12 toujours disponible

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.