Analyseur d'épaisseur de revêtement Terra980

de métalde processde rayon X

L'analyseur d'épaisseur de revêtement XRF portable Terra980 de nouvelle génération adopte un Si-PIN (ou détecteur de dérive au silicium SDD) à haute résolution pour obtenir une précision et une stabilité de mesure excellentes. Qu'il s'agisse du contrôle qualité de l'épaisseur du revêtement dans le processus de production, ou d'un contrôle qualité aléatoire et d'une inspection complète pour le contrôle des matériaux entrants, le Terra980 peut répondre à vos besoins d'inspection. La mesure de l'épaisseur du revêtement joue un rôle important dans le processus de traitement de surface de l'industrie manufacturière et constitue une méthode nécessaire pour garantir l'excellente qualité du produit. Si le revêtement est trop épais, il augmentera le coût de production, et s'il est trop fin, il ne répondra pas aux exigences de performance ou d'apparence du matériau. L'analyseur d'épaisseur de revêtement XRF portable Terra980 de nouvelle génération adopte un Si-PIN (ou détecteur de dérive au silicium SDD) à haute résolution pour obtenir une précision et une stabilité de mesure excellentes. Qu'il s'agisse du contrôle de la qualité de l'épaisseur du revêtement dans le processus de production, ou d'un contrôle de qualité aléatoire et d'une inspection complète pour le contrôle des matériaux entrants, le Terra980 peut répondre à vos besoins d'inspection. Pourquoi l'analyseur de revêtement Terra980 est-il un bon choix ? Rapide et facile à utiliser-- Il peut réaliser la vitesse de détection de second niveau de l'analyse de l'épaisseur et de la composition du revêtement, et sa taille est petite et portable Haute précision : la source de rayons X miniature en céramique et le détecteur à semi-conducteur haute performance sont utilisés pour améliorer efficacement la précision du test Simplicité d'utilisation : équipé d'un grand écran tactile haute définition, l'interface utilisateur est intuitive et ne nécessite pratiquement aucune formation